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GaN-金刚石散热解决方案

行业痛点

大尺寸封装导致翘曲,传统工艺失效
细间距(≤40μm)下助焊剂残留难以清除
Pitch<10μm时,锡球溢流、桥接、脆性IMC问题突出
解决方案概述
针对2.5D/3D封装中的翘曲、助焊剂残留及细间距互连问题,青禾晶元提供两大核心模块:临时键合/解键合——解决超薄晶圆支撑与分离;Fluxless TCB——氢自由基原位还原,省去助焊剂,实现高精度互连。
核心解决方案
针对2.5D/3D封装中的翘曲、助焊剂残留及细间距互连问题,青禾晶元提供两大核心模块:临时键合/解键合——解决超薄晶圆支撑与分离;Fluxless TCB——氢自由基原位还原,省去助焊剂,实现高精度互连。
核心工艺一:
Fluxless TCB
氢自由基原位还原技术,省去涂覆/清洗步骤
避免助焊剂残留,提升可靠性
支持大尺寸芯片、细间距键合
可实现Cu-Cu直接键合
2-12寸
兼容晶圆尺寸
±0.5%
控压精度
2-12寸
兼容晶圆尺寸
WPH≥6
兼容晶圆尺寸
SAB6100-半自动
超高真空常温键合设备
核心工艺二:
临时键合/解键合
氢自由基原位还原技术,省去涂覆/清洗步骤
避免助焊剂残留,提升可靠性
支持大尺寸芯片、细间距键合
可实现Cu-Cu直接键合
2-12寸
兼容晶圆尺寸
±0.5%
控压精度
2-12寸
兼容晶圆尺寸
WPH≥6
兼容晶圆尺寸
SAB6100-半自动
超高真空常温键合设备
核心优势
临时键合全流程
设备 + 材料 + 工艺配套,快速导入量产
临时键合全流程
设备 + 材料 + 工艺配套,快速导入量产
临时键合全流程
设备 + 材料 + 工艺配套,快速导入量产
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